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Tempo di scansione
di soli 100µs,
il più veloce
in campo industriale
Rilevamento sicuro di materiali particolari
Gomma nera con intensità bassa di luce riflessa, oggetti con
superfici ruvide, oggetti con superfici a specchio, wafer,
oggetti trasparenti, vetro dei display a cristalli liquidi. SUNX
ha ora integrato tutte le tecnologie richieste per permettere
un rilevamento stabile di questi oggetti che fino ad ora erano
considerati oggetti difficili da misurare. Attraverso l’in-
troduzione di un nuovo sistema ottico, di un sensore CCD
unidimensionale e della tecnologia ad alta frequenza di cam-
pionamento, può ora essere misurata in modo stabile un’am-
pia varietà di oggetti con elevata precisione e velocità.
SENSORE LASER
AD ALTA VELOCITÁ
HL-C1
Conforme Direttive EMC
Frequenza di campionamento di 100µs, la più
alta nella serie di prodotti di questa classe.
La tecnologia ad alta frequenza di campionamento su cui si
basano i sensori CCD unidimensionali permette il rilevamen-
to preciso di oggetti che ruotano, vibrano e sono in movi-
mento.
Modelli conformi agli standard FDA
Disponibili i modelli conformi agli standard FDA particolar-
mente adatti al mercato americano. FDA: Classe 2 IEC/JIS:
Classe 1
Rilevamenti precisi indipendentemente dalla
superficie dell’oggetto da rilevare
Mentre il metodo tradizionale a PSD si basa sulla misurazio-
ne della posizione dal centroide di distribuzione della quan-
tità luce totale degli spot, il sensore CCD unidimensionale
misura la posizione del valore massimo per gli spot stessi.
In questo modo è possibile rilevare con precisione oggetti
indipendentemente dalla loro superficie per es. una frattura
in un oggetto metallico oppure superfici non riflettenti come
gomma nera.
Risoluzione 1µm, linearità ± 0.1% F.S.
Disponibili modelli con una risoluzione ultra precisa di 1µm:
HL-C105B-BK, HL-C105F-BK, HL-C105B, HL-C105F,
linearità ± 0.1% F.S. per tutti i modelli.
Centro
reale
Centroide della
distribuzione
Centro
reale
PSD
Sensore CCD
unidimensionale
Errore
<Metodo PSD>
<Metodo con sensore CCD
unidimensionale>
Teoria operativa
Modifica dei dati misurati a
seconda del colore dell’oggetto
(ceramica bianca/gomma nera)
Per il rilevamento di scanalature a forma di V
Dato che il sensore misura la posizione del picco luminoso,
non è influenzato da luci riflesse secondarie e quindi non
incorre in errori
Dato che il sensore misura il baricentro per la distribuzione
della quantità di luce dello spot luminoso, si possono verificare
errori dovuti alla presenza di luce secondaria riflessa.
sensore CCD
unidimensionale
Metodo PSD